맞춤형 열 충격 테스트 챔버 JESD22-A106B 표준을 충족

1제품 이름 및 목적

2제품 특징

• 견고하고 고성능 의 방 건설
  • 방은 강도 높은 금속강철으로 만들어져 있으며,첨단 열 절연 층과 결합하여 뜨거운 지역과 차가운 지역 사이의 열 전달을 최소화합니다.이 문은 정밀 밀폐 메커니즘과 전망 창으로 설계되었으며, 작업자가 챔버의 무결성을 손상시키지 않고 테스트 프로세스를 면밀히 모니터링 할 수 있습니다.인테리어 는 맞춤형 라크 와 장착 장치 로 설계 되었습니다, 다양한 구성 요소 크기와 모양을 수용 할 수 있으며 열 충격 조건에 균일한 노출을 보장합니다.
• 초정밀 온도 제어 및 사이클 시스템
  • 온도 범위 및 사이클: 일반적으로 -80 °C에서 + 150 °C까지 광범위한 온도 범위를 달성 할 수 있습니다. 시스템은 뜨거운 지역과 차가운 지역 사이의 빠른 온도 사이클을 수행 할 수 있습니다.단 몇 초의 전환시간으로이것은 전자 부품이 경험 할 수있는 급격한 온도 변화를 모방하는 데 중요합니다. 온도 조절은 ± 0.2 °C 내의 정확도로,매우 신뢰성 있고 반복 가능한 테스트 결과를 제공하는.
  • 프로그래밍 가능한 온도 프로파일: 챔버의 제어 시스템은 복잡한 사용자 지정 온도 프로파일을 생성하고 실행 할 수 있습니다. 운영자는 특정 온도 수준을 정의 할 수 있습니다.각 구역에 머무르는 시간, 그리고 열 충격 주기의 순서와 수를 실제 제조 및 운영 조건의 다양한 범위를 복제합니다.이 유연성은 다양한 미션 크리티컬 시나리오에서 구성 요소의 포괄적 인 테스트를 가능하게합니다..
• 직관적인 제어판 및 데이터 획득 인터페이스
  • 제어판은 반도체 및 전자 공학자가 쉽게 사용할 수 있도록 설계되었습니다. 그것은 모든 테스트 매개 변수를 손쉽게 설정하고 조정 할 수있는 사용자 친화적 인 인터페이스를 제공합니다.온도 포함이 패널은 또한 두 구역의 현재 온도, 테스트 프로세스의 상태 및 모든 알람 또는 경고를 실시간으로 표시합니다.방은 모든 관련 테스트 데이터를 기록하는 포괄적인 데이터 획득 시스템과 통합됩니다.여기에는 상세한 온도 역사, 사이클 수 및 테스트 된 구성 요소의 전기적, 물리적 또는 성능 특성의 관찰 가능한 변경 사항이 포함됩니다.데이터를 안전한 저장소에 저장할 수 있습니다., 암호화된 형식으로 챔버의 내장 메모리에 저장되거나 심층 분석과 보고를 위해 외부 저장 장치로 수출됩니다.이 시스템은 또한 다양한 표준화된 형식으로 상세한 시험 보고서를 생성할 수 있습니다..
• 향상 된 안전 및 보안 기능
  • 작업자의 안전과 민감한 시험 샘플과 방의 보호를 보장하기 위해 고급 안전 및 보안 기능이 포함되어 있습니다.여기에는 여러 층의 과열 및 과류 보호가 포함됩니다., 비중이 많은 회로와 비상 정지 버튼, 그리고 이상적인 온도 변동, 장비 장애, 또는 보안 위반에 대한 경보.방은 또한 접근 제어 장치가 장착되어 있습니다, 생체 인증 또는 스마트 카드 리더와 같이 무단 접근을 방지하고 기밀 테스트 활동을 보호합니다.시험 중에 생성될 수 있는 잠재적으로 위험한 기체나 증기를 처리하기 위해 독립적인 소방 시스템과 적절한 환기와 배기가스 메커니즘을 갖추고 있습니다..

3특정 매개 변수

• 온도 범위 와 정확성
  • ±0.2°C의 정확도로 -80°C에서 +150°C의 온도 범위는 포괄적이고 정확한 테스트 포장을 제공합니다.전자 부품은 종종 복잡한 내부 구조와 기능으로 인해 엄격한 온도 허용 요구 사항이 있습니다.예를 들어, 트랜지스터의 전기적 특성은 온도에 따라 크게 변할 수 있으며, 정확한 온도 조절은 안정성을 평가하는 데 필수적입니다.넓은 온도 범위는 극심한 추위와 극심한 열 조건에서 구성 요소를 평가 할 수 있습니다., JESD22-A106B의 준수.
• 열 충격 주기의 매개 변수
  • 이 방은 열 충격 순환의 매우 맞춤형 수를 수행하도록 프로그래밍될 수 있습니다.부품의 특수한 요구 사항과 예상 사용 기간에 따라각 온도 구역에서의 체류 시간은 밀리 초에서 몇 시간까지 조정할 수 있으며, 다양한 제조 및 운영 시나리오를 시뮬레이션 할 수 있습니다. 예를 들어,모바일 장치에 사용되는 통합 회로는 단기 견딜 필요가 있습니다., 사용 중에 종종 열 충격 주기가 발생하지만, 서버의 구성 요소는 더 길고 덜 빈번한 주기를 경험할 수 있습니다.
• 테스트 용량 및 용량
  • 방은 유연한 테스트 부피를 제공하며 일반적으로 1m3에서 5m3까지 다양하며 상당한 수의 전자 구성 요소를 수용합니다.유료 화물 용량은 작지만 매우 가치 있고 민감한 물건을 처리하도록 설계되었습니다.최대 수 킬로그램의 용량으로 제어되고 정확한 환경에서 개별 구성 요소 또는 작은 구성 요소의 테스트를 가능하게합니다.
• 데이터 샘플링 빈도 및 해상도
  • 데이터 수집 시스템은 최대 1200 Hz의 높은 주파수에서 데이터를 샘플링합니다. 온도 데이터는 0.1°C의 해상도를 가지고 있으며, 온도 변화를 모니터링하는 데 탁월한 세부 수준을 제공합니다..이 고해상도와 빈번한 샘플링은 가장 작은 온도 변동과 경향을 감지 할 수 있습니다.열충격 테스트 중에 부품의 동작에 대한 포괄적인 이해를 허용하고 잠재적인 고장 모드를 식별하는 것을 촉진합니다..

4제품 기능

• JESD22-A106B의 정확한 시뮬레이션, 열 충격 시험 조건
  • 방은 JESD22-A106B 표준에서 정해진 정확한 열 충격 조건을 놀라운 정확도로 복제합니다.이것은 매우 중요합니다. 전자 부품은 가장 도전적이고 경쟁적인 시장에서 신뢰성과 성능을 보장하기 위해 이러한 표준을 준수해야합니다.이러한 정확한 시뮬레이션에 구성 요소를 적용함으로써 제조업체는 제품들이 산업의 엄격한 요구 사항을 충족시킬 것이라는 절대적인 확신을 가질 수 있습니다.
• 제품 디자인 최적화 및 품질 관리
  • 다양한 부품 프로토타입에 대한 일련의 포괄적 인 테스트를 통해 챔버에서 얻은 데이터는 제품 디자인을 최적화하는 데 귀중한 자원으로 사용됩니다.엔지니어 들 은 여러 반도체 재료 의 성능 을 분석 할 수 있다, 제조 기술 및 열 충격의 극심한 스트레스 아래 구성 요소 건축물. 방은 또한 품질 통제에 중요한 도구로 기능각 부품의 생산 대상이 엄격한 표준을 충족하는지 확인예를 들어, 콘덴세터에 있는 특정 용매 관절이 특정 열 충격 주기로 후 균열의 징후를 나타낸다면,설계 또는 제조 프로세스가 내구성을 높이기 위해 조정 될 수 있습니다..
• 전자 부품에 대한 연구 개발 지원
  • 전자 부품 연구 및 개발의 매우 혁신적인 분야에서, 맞춤형 열 충격 챔버는 귀중한 통찰력을 제공합니다.연구자들은 새로운 반도체 물질의 기본적 특성과 열 충격과의 상호 작용을 연구하기 위해 그것들을 활용할 수 있습니다.이는 보다 탄력적이고 고성능의 전자 부품으로 이어지는 혁명적인 디자인과 기술의 탐색을 가능하게 합니다. 예를 들어,재료 과학자는 JESD22-A106B에 따라 새로운 나노 반도체 재료 또는 고급 포장 기법의 성능을 테스트 할 수 있습니다., 열 충격 테스트 조건, 다음 세대의 응용을위한 잠재력을 평가하기 위해 챔버를 사용하여.
• 전자 부품의 적합성 검사 및 인증
  • 이 장비는 JESD22-A106B를 충족시키기 위해 준수 테스트를 수행하는 데 필수적입니다.반도체 및 전자 산업 은 그 부품 의 성능 과 신뢰성 에 관하여 엄격 한 규정 을 가지고 있다, 방에서 얻은 시험 결과는 구성 요소가 이러한 표준을 충족하는지 인증하는 데 사용됩니다.이것은 부품의 수용과 더 큰 전자 시스템에 대한 통합과 시장에서 제품의 장기적인 성공을 보장하는 데 매우 중요합니다..

5생산 및 품질 보장

• 엄격 한 제조 과정
  • JESD22-A106B의 맞춤형 열 충격 챔버는 가장 엄격한 품질 관리 절차에 따라 제조됩니다.방 구조와 단열 재료에서 온도 조절 장치와 안전 장치까지, 고도로 검증 된 신뢰할 수있는 공급 업체에서 공급됩니다. 조립 과정은 깨끗하고 통제 된 환경에서 고도로 훈련 된 기술자 팀이 수행합니다.방은 정확성과 성능을 보장하기 위해 최첨단 캘리브레이션 장비와 기술을 사용하여 생산 과정에서 여러 단계에서 캘리브레이션 및 검증됩니다..
• 품질 인증 및 검증
  우리 방은 관련 산업 표준 품질 인증을 받았으며 독립적인 테스트 실험실에서 검증되었습니다. 정확하고 신뢰할 수있는 테스트 결과를 제공하는 것으로 입증되었습니다.,JESD22-A106B 및 다른 관련 반도체 및 전자 시험 표준에 적합합니다.우리는 또한 지속적으로 최신 기술 발전과 산업 고객으로부터 피드백을 기반으로 제품을 업데이트하고 개선하여 장기적인 성능과 준수를 보장합니다..

6응용 분야와 성공 사례

• 모바일 장치에 대한 통합 회로 테스트
  • 반도체 제조업체는 새로운 세대의 휴대전화 통합 회로를 테스트하기 위해 방을 사용했습니다.정상 사용 중에 발생하는 온도 변화를 시뮬레이션합니다., 예를 들어 휴대 전화가 뜨거운 주머니 또는 차가운 환경에서 있고 집중적으로 사용되었을 때 테스트는 특정 처리 코어의 열 관리에 대한 잠재적 문제를 발견했습니다.열 방출 경로를 재설계하고 더 열 전도성 물질을 사용함으로써, 제조업체는 통합 회로의 성능과 신뢰성을 향상시켜 더 나은 사용자 경험과 더 긴 배터리 수명을 보장 할 수있었습니다.
• 고전력 전자제품에서 트랜지스터 내구성 평가
  • 전자 설계 회사에서 고전력 증폭기에 사용되는 트랜지스터의 성능을 평가했습니다. 트랜지스터는 극심한 온도 전환에 노출되었습니다.대기 상태에서 풀 로드 동작까지의 조건을 복제하는 것그 결과 특정 트랜지스터 유형이 열 충격 아래에서 이득의 변화를 경험하는 경향이 있음을 보여주었습니다. 트랜지스터의 도핑 프로필을 수정하고 포장을 개선함으로써,디자인 하우스는 증폭기의 안정성과 효율성을 향상시킬 수 있었습니다., 신호 왜곡 및 부품 고장의 위험을 줄입니다.
• 자동차 전자제품에서 콘덴시터 성능 테스트
  • 자동차 전자제품 제조업체는 엔진 제어 장치에 콘덴서들을 테스트했습니다. 콘덴서들은엔진 가동 시 발생하는 온도 변동을 시뮬레이션합니다.테스트는 용도 변동 및 잠재적 인 장애로 이어질 수 있는 콘덴시터의 다이 일렉트릭 물질의 약점을 확인했습니다.새로운 변압기 구성을 개발하고 콘덴시터의 내부 구조를 최적화함으로써, 제조업체는 엔진 제어 장치의 신뢰성을 높이고 더 원활한 엔진 작동과 배출량을 줄일 수있었습니다.

7서비스 및 지원

• 판매 전 기술 상담
  Our team of semiconductor and electronics testing experts provides in-depth technical consultations to help customers understand the capabilities and suitability of the chamber for their specific testing needs우리는 산업에 맞춘 시범 및 교육을 제공하여 엔지니어와 기술자를 구매하기 전에 챔버의 작동과 기능에 익숙하게합니다.우리는 또한 테스트 할 구성 요소에 따라 적절한 테스트 매개 변수와 액세서리를 선택하는 데 도움을.
• 판매 후 서비스 및 유지보수
  우리 는 현장 설치 와 착수 를 포함한 포괄적 인 판매 후 서비스 를 제공하고 있습니다. 우리 의 기술자 들 은 정기적 인 유지 보수, 정정 및 비상 수리 를 위해 준비 되어 있습니다.우리는 예비 부품과 업그레이드를 제공 하 고 최고 성능을 유지 하 고 방에서 작동우리는 또한 JESD22-A106B에 대한 검사기의 장기적인 신뢰성과 가용성을 보장하는 예방 유지 보수 및 우선 기술 지원을 포함하는 서비스 계약을 제공합니다.전자 부품의 열 충격 테스트.
• 교육 및 기술 지원
  우리는 새로운 사용자를 위한 교육 프로그램을 실시하여 사용자 지정 열 충격 챔버를 효과적으로 작동하고 테스트 결과를 해석할 수 있도록 합니다.우리의 기술 지원 팀은 질문에 대답하기 위해 24/7 사용할 수 있습니다., 문제 해결 지원을 제공하고 시험 방법 최적화 및 JESD22-A106B 및 기타 산업 테스트 표준에 대한 지침을 제공합니다.우리는 또한 소프트웨어 업데이트와 데이터 획득 및 분석 시스템에 대한 지원을 제공합니다., 고객이 테스트에서 최신 기능과 기술을 최대한 활용할 수 있도록 합니다.